Nghiên cứu sự ảnh hưởng của thông số công nghệ khi miết ép dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt

Hoạt động

Nghiên cứu sự ảnh hưởng của thông số công nghệ khi miết ép dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt

01/03/2022

Bài báo này nghiên cứu ảnh hưởng của các thông số công nghệ khi miết ép có dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt của chi tiết máy. K

Tóm tắt:

Bài báo này nghiên cứu ảnh hưởng của các thông số công nghệ khi miết ép có dao động đến sự hình thành quỹ đạo “vết” trên lớp bề mặt của chi tiết máy. Kết quả nghiên cứu thu được trên cơ sở thực hiện nghiên cứu lý thuyết và nghiên cứu thực nghiệm. Quỹ đạo vết của lớp bề mặt chi tiết sau khi miết ép dao động có ba dạng: song song, xen kẽ và đối xứng với nhau và nó phụ thuộc vào số vòng quay của phôi, bước tiến của dụng cụ, tần số dao động, biên độ dao động và góc xoay của dụng cụ.

Từ khóa: "Vết” trên lớp bề mặt, miết ép dao động, góc nghiêng dụng cụ, chiều sâu miết ép, bước tiến dao, tần số dao động.

Xem toàn bộ bài viết TẠI ĐÂY.

Nguyễn Văn Hinh, Dương Thị Hà, Nguyễn Thị Liễu

Email: nguyenvanhinhck@gmail.com

Trường Đại học Sao Đỏ

[Tạp chí xuất bản:Tạp chí NCKH - Đại học Sao Đỏ
Số 4 (75) 2021]

Tin mới

Chính phủ đẩy mạnh công tác sở hữu trí tuệ phục vụ phát triển kinh tế - xã hội

Thay mặt Chính phủ, Phó Thủ tướng Hồ Quốc Dũng ký Nghị quyết số 282/NQ-CP ngày 22/9/2026 ban hành Kế hoạch hành động của Chính phủ thực hiện Kết luận số 51-KL/TW ngày 17/6/2026 của Bộ Chính trị về đẩy mạnh công tác sở hữu trí tuệ phục vụ phát triển kinh tế - xã hội trong tình hình mới.

24/09/2026

Văn bản

Xem thêm +